IT之家 3 月 28 日消息，推統Introspect Technology 宣布推出全球首個 GDDR7 顯存測試系統，出全存測支持大規模并行、球首72 通道、試系40 Gbps PAM3 ATE-on-Bench 測試，推統號稱可為顯存和 GPU 制造商提供最快的出全存測上市速度。

Introspect 已經交付了 M5512 GDDR7 顯存測試系統，球首號稱是試系世界上第一個用于測試 JEDEC 全新 JESD239 圖形雙倍數據速率 （GDDR7） SGRAM 規范的商業解決方案。

該系統使圖形顯存工程師、推統GPU 設計工程師、出全存測顯存和 GPU 領域的球首產品工程師以及系統集成商能夠快速啟動新的 GDDR7 顯存設備、調試協議錯誤、試系表征信號完整性，推統并執行詳細的出全存測顯存讀 / 寫功能壓力測試，而無需任何其他工具。球首

固態技術協會 JEDEC 于 3 月 6 日正式發布 JESD239 GDDR7 顯存標準，JESD239 GDDR7 提供的帶寬是 GDDR6 的兩倍，每臺設備最高可達 192 GB/s。

JESD239 GDDR7 是第一個使用脈幅調制（Pulse Amplitude Modulation，PAM）接口進行高頻操作的 JEDEC 標準 DRAM。其 PAM3 接口提高了高頻操作的信噪比（SNR），同時提高了能源效率。通過使用 3 個級別（+1，0，-1）在 2 個循環上傳輸 3 個比特，而傳統的 NRZ（不歸零）接口在 2 個周期上傳輸 2 個比特，PAM3 提供了更高的每循環數據傳輸速率，從而提高了性能。

M5512 GDDR7 顯存測試系統是一款臺式測試和測量儀器，它包含 72 個高性能引腳，每個引腳都能夠在 PAM3 模式下以 40 Gbps 的速度運行。每個引腳都包含用于執行讀寫操作的雙向電路，并且每個引腳都包含一整套模擬表征功能。

AMD、美光、英偉達、三星、SK 海力士都對 GDDR7 標準表示了支持。三星在英偉達 GTC 2024 大會上展示 GDDR7 顯存之后，型號為 K4VAF325ZC-SC32 與 K4VAF325ZC-SC28 的兩款顯存顆粒現已上線三星半導體官網，分別達 28Gbps / 32Gbps 速率，單顆容量 16Gb。

SK 海力士則表示正在研發速度更快的顯存模組，目標定在了更高的 40Gbps。

預計將在年底上市的英偉達 RTX 50 系列顯卡將是首批采用 GDDR7 顯存的產品，IT之家小伙伴可以期待后續消息。

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